无锡瑞埃德检测科技有限公司
近年来，X射线显微断层扫描已成为无损检测材料性能的不可或缺的手段。工业计算机断层扫描——也称为CT扫描——能够轻易地显示出复合材料的材料结构。工业CT精确地、从整体到单个纤维的各个方面显示了每一个样本。复合材料零件的每个结构和尺寸都可以通过单个CT数据集进行评估。
在聚合物领域，CT技术在确定材料成分，以及将微观结构与最终物理性能联系起来方面有特别的价值。
目前的科技保证了实验室仪器可以达到高精度的亚微米分辨率：RX Solutions 工业CT系统的分辨率可低至0.3µm/体素（JIMA系统实测数据），图像质量类似于同步加速器采集。
高分辨率采集的质量取决于几个参数，包括了解聚合物对X射线的敏感性，清晰的相位对比，以及具体分析需要的分辨率参数的定义。
高分辨率CT采集需要X射线源焦点的高稳定性，同时也要求样品的高稳定性。轻质材料对X射线很敏感，扫描过程中会发生变形。而RX Solutions用于层析成像数据的采集和重建的软件X-Act，则可以通过编程时序来控制这些不良影响。
复合材料的高分辨率检测是无损显示纤维取向和分布的有力工具。在获得并重建样本后，可以通过定义的灰度值来区分材料成分（灰度值与复合样品中材料的密度变化有关，软件中用65535个值来进行区分）。
在断层成像过程中，需要考虑两件事：样本大小和视野范围。两者之间同样密切影响。样本大小在信号传输量中起着重要作用，从而会影响图像质量。样本越大，保持信噪比的扫描时间就越长。而视野范围取决于几何分辨率（或体素大小）。因此，当样本大于视野范围时（在高分辨率下），就只能在感兴趣区域（ROI）而不是整个样本上进行采集。
得益于“螺旋”或“堆栈”等多种采集模式，RX Solutions CT系统可以被用来研究各种零件和材料。通过创新设计和灵活的射线源/探测器定位，RX Solutions系统已经可以通过水平或垂直移动探测器来增加视野，微米级和亚微米级的采集都可以在同一个系统中使用样本进行比对。
RX Solutions CT系统采用断层成像技术，可用于材料学研究，以及工业应用的研发和生产等各种领域。搭配扩展性强的CT硬件与全功能的“X-Act”软件，整个系统简化了采集及重建的过程，并通过先进的校正算法进行了增强，可以实现连贯的自动化工作流程---扫描、重建和检测。
无锡瑞埃德在过去五年的市场开发过程中，深刻认识到质量管控的升级需要更先进的手段来监控产品质量，优化产品开发流程，同时发现很多客户对产品内部缺陷有无损分析要求，为此决定引入RX Solutions高精度工业CT产品，从而更好的服务更多的客户。从2019年5月双方团队初次在德国斯图加特见面表达合作意愿开始，到2020年12月，双方报着极大的诚意达成了深度合作意向，在无锡建立了工业CT测试分析中心。
未来，无锡瑞埃德将作为RX Solutions在中国区的总代理商，全权负责其工业CT设备的销售，安装及售后的技术支持工作。无锡瑞埃德检测和RX Solutions会努力带给大家更合适的工业CT解决方案，同时也欢迎有志之士一起和我们共同推广合作。
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